Adaptive Wavefront Correction in Two-photon Microscopy - Coherence-Gated Wavefront Sensing
(Autor) Ruckel Markus
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Information
Editorial:
VDM Verlag Dr. Mueller E.K.
Formato:
Paperback
Número de páginas:
None
Idioma:
en
ISBN:
9783639011555
Año de publicación:
2008
Fecha publicación:
29 de Abril de 2008
Weight:
0 lb