Charged Semiconductor Defects
Structure, Thermodynamics and Diffusion (2009)
(Autor) Seebauer Edmund G
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Information
Editorial:
Springer
Formato:
Hardcover
Número de páginas:
None
Idioma:
en
ISBN:
9781848820586
Año de publicación:
2008
Fecha publicación:
1 de Diciembre de 2008
Weight:
1 lb